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荧光、吸收光谱合二为一——HORIBA慕尼黑展推出Duetta光谱仪

   日期:2018-11-09     浏览:25    评论:0    
核心提示:第九届慕尼黑上海分析生化展(analytica China 2018)于上海新国际博览中心盛大召开。本届展会规模空前,近1,000家行业先锋企业齐
 第九届慕尼黑上海分析生化展(analytica China 2018)于上海新国际博览中心盛大召开。本届展会规模空前,近1,000家行业先锋企业齐聚一堂,展示尖端科技,解析热点话题,引领行业新高度。同时也吸引近30000名实验室研究和应用领域的专业观众云聚于此,共享分析生化领域两年一度的饕餮盛宴。

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视频采访现场(从左至右:HORIBA科学仪器事业部部的全球荧光产品经理Cary Joseph Davies、中国区总经理濮玉梅、技术支持工程师周延民)

  作为具有世界先进水平的分析仪器系统及系列产品供应商,HORIBA集团再次亮相analytica China 2018,并在展会发布多款重磅仪器新品。仪器信息网编辑在HORIBA展位现场,有幸视频采访了HORIBA科学仪器事业部的全球荧光产品经理Cary Joseph Davies、中国区总经理濮玉梅、技术支持工程师周延民,分别请三位对发布的Duetta荧光及吸收光谱仪、X射线荧光分析仪XGT-9000等新品特点、市场定位、荧光光谱仪的技术发展趋势等进行了一一介绍。

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此次发布的新品:Duetta荧光及吸收光谱仪(左),X射线荧光分析仪 XGT-9000(右)

  首先,Cary Joseph Davies介绍了新品Duetta荧光及吸收光谱仪的产品特点,该产品实现了更佳的光谱仪理念,实现荧光与吸收光谱“合二为一”,具有一台光谱同时完成荧光和吸收光谱采集、瞬间获得荧光光谱、高灵敏度、智能触屏操作等特点。至2018年年初上市以来,已经获得业内人士和用户的广泛关注和咨询。同时,还介绍了该产品的产品定位、“二合一”设计契机、应用领域等。

 

  接着,濮玉梅补充道,由于Duetta标配的超快先进CCD技术,大大改进了以往荧光光谱单道PMT测谱慢的弊病,一次取谱测试时间缩减至100毫秒以下。同时,CCD技术也使得近红外测试可以一次取谱,这些新的改进都极大促进了研究应用的快速、便捷。同时,HORIBA以往产品技术更加专注和擅长于高端科学研究领域,而此次Duetta更快捷测试技术、外观更小巧设计等也使该产品从科学研究领域向分析测试、工业应用市场的拓展成为可能,分析测试、工业领域等未来潜力市场也将得到HORIBA的重点关注。

  最后,周延民还介绍了另外一款新品——X射线荧光分析仪XGT-9000,该产品延续了HORIBA产品分析微小部的优势,非常适用于胶片、食品、药品、电池隔膜等异物分析以及电子元件和电路板中包含的异物及故障分析。可同时取得清晰的光学图像, X射线荧光图像和X射线透视图像;且通过提高X射线光束的强度提高了XGT-9000的灵敏度和成像速度;另外利用图像解析功能分析异物,XGT-9000可以检测出原始数据所得不到的异物的位置。

 
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